问题描述

客户使用iperf3测试100G网卡时发明速率无法抵达100G
，经咨询研发100G网卡在iperf3上测试保存问题
，需要使用iperf2工具进行测试
，改用后测试正常。同时客户要求单卡双口bond抵达200G
，由于PCIE速率及板卡设计问题不支持单卡双口bond实现200G
，需要使用双卡绑定实现。

涉及规模

V02201Y000000000      网卡_M_100G_MCX516A-CCAT_LC_PCIEx16_2_XR

故障根因

M5平台只支持PCIE3.0
，凭据PCIE3.0的标准8Gb/s 
，编码原则128/130b
，100G网卡用16条lane（X16）
，所以理论总带宽=16*8Gb/s*128/130=126Gb/s 
，所以也就是说PCIE总线理论上也只能到126G的总带宽
，加上种种损耗
，实际也就到100G左右
，PCIE链路有限制
，并且此款卡也只支持100G。所以无法抵达200G的速率。

     同时测试时每次测试结束后需要结束server端的程序
，需要再次测试时再次启用。不可开启一次server端之后
，client端一直多次测试
，此种情况会导致server端CPU占用率攀升
，严重影响测试的准确性。